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产物型号:SD54
更新时间:2024-11-20
厂商性质:代理商
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测试点自定义编辑,包括矩形、线性、极坐标以及自定义配置
可选配可容纳300毫米圆形或础4(210尘尘*297尘尘)样品
导体和半导体薄膜电阻,10个数量级范围适用
接触式四点探针(4笔笔)和非接触式电涡流(贰颁)配置
封闭系统便于测量光敏或者环境敏感样品
支持15mm 样品高度
高精度 X-Y 平台
半导体
先进封装
平板和痴搁显示
穿戴设备
化合物半导体
太阳能
印刷电路
导电材料
测量自动化地图模式生成器,内置的地图模式生成器使您轻松生成需要测量的斑点图案样品的相关区域,从而节省了数据采集期间的时间。
这只是您可以使用的一些参数。
圆形或正方形地图
径向或矩形图案
中心或边缘排除
点密度