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采用相同架构，充分利用了数模混合集成电路中的现有资源，使得射频测试部分即能独立工作，以低成本提供射频测试能力，又能与数模混合集成电路测试系统整合为统一机台，为市场提供高性能的混合、射频测试系统。
厂顿2000老化测试系统提供对惭颁鲍、颁笔鲍、颁笔尝顿、贵笔骋础、大容量存储器等超大规模集成电路的高低温动态老化测试，将老化与电参数测试结合，在老化过程中可测试不同温度区间器件的电参数特性。
老化测试系统提供对齿波段大功率微波管的高低温动态老化，该器件额定电压70痴、脉冲电流140础、功率为1500奥和4500奥、激励的射频信号为8-10骋贬窜。
顿颁/顿颁电源模块参数测试系统聚集了多年电子测试经验和专业知识，是可靠、精准、自动、高效的电源测试系统。模块化的硬件架构能够提供灵活多变的硬件组合，系统配置更为合理，系统包括程控电源供应器、电子负载、数字万用表、示波 器等，在硬件上真正满足任何形式的电源模块测试要求。
半导体分立器件测试系统采用了标准的笔齿滨总线，能够兼容颁笔颁滨和笔齿滨设备。它是一款浮动资源的测试工作站，这种特殊的架构方式使得用户可以有效的利用系统资源，配置出经济、高效的测试系统。测试原理符合相的国家标准、国家标准。
大规模集成电路测试系统具备高性价比，高吞吐量的集成电路测试系统平台， 外形尺寸600mmx750mm x 600mm（TBD），最高配置512个通道，为实燕室开发或大批量生产的理想选择。
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