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Lumina AT2 薄膜缺陷检测仪:实现亚纳米薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像。实用于透明、硅、化合物半导体和金属基底。
笔谤辞蹿颈濒尘3顿光学轮廓仪使用的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术。以低价格实现次纳米级的表面形貌研究。
碍尝础探针式台阶仪笔-7:P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
Lumina AT1薄膜缺陷检测仪实现亚纳米薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像。实用于透明、硅、化合物半导体和金属基底。
多功能智能充电柜是一款多功能智能设备,旨在为用户提供更便捷更安全的充电服务。它融合了安全、便利和智能化的特点,是为多设备、大功率设备充电的优秀工具,本充电柜外观简洁大气,充电功能齐全,占地面积小,使用场景丰富,匠心设计,保障您的用电安全。